Änderungen

<p>Die Device Sampling Frequency Observation kann mit einem oder mehreren Elementen in einem Device Information Organizer vorhanden sein. Die Abtastfrequenz oder Samplefrequenz einer Messung sagt aus wie schnell hintereinander ein Messwert gemessen werden kann. Beispielsweise kann ein Pulsmesser jede Sekunde einen Wert messen. Die Abtastfrequenz wird hier in Millisekunden angegeben und weil ein Gerät mehr wie als nur eine Messgröße messen kann, können mehrere Device Sampling Frequency Observation-Elemente existieren. Wenn das Gerät die Daten über die Abtastfrequenz oder den die anderen Geräte-Details nicht zurückgibt, können diese, wenn gewünscht, auch manuell oder durch über andere Wege eingetragen werden.</p>

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